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高低溫沖擊試驗箱 High And Low Temperature Shock Test Chamber

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產(chǎn)品名稱(chēng): 高低溫沖擊試驗箱 High And Low Temperature Shock Test Chamber
產(chǎn)品型號:
產(chǎn)品展商: 其他品牌
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簡(jiǎn)單介紹

高低溫沖擊試驗箱 High And Low Temperature Shock Test Chamber適用于考核產(chǎn)品(整機)、元器件、零部件等經(jīng)受溫度急劇變化的能力,該溫度沖擊試驗能夠了解試驗樣品一次或連續多次因溫度變化而帶來(lái)的影響。影響溫度變化試驗的主要參數為溫度變化范圍的高溫和低溫溫度值、樣品在高溫和低溫下的保持時(shí)間、以及試驗的循環(huán)次數等因素。高低溫沖擊試驗箱 High And Low Temperature Shock Test Chamber


高低溫沖擊試驗箱 High And Low Temperature Shock Test Chamber  的詳細介紹

高低溫沖擊試驗箱 High And Low Temperature Shock Test Chamber


高低溫沖擊試驗箱 High And Low Temperature Shock Test Chamber簡(jiǎn)介:本試驗箱適用于考核產(chǎn)品(整機)、元器件、零部件等經(jīng)受溫度急劇變化的能力,該溫度沖擊試驗能夠了解試驗樣品一次或連續多次因溫度變化而帶來(lái)的影響。影響溫度變化試驗的主要參數為溫度變化范圍的高溫和低溫溫度值、樣品在高溫和低溫下的保持時(shí)間、以及試驗的循環(huán)次數等因素。

高低溫沖擊試驗箱 High And Low Temperature Shock Test Chamber技術(shù)參數

型號

TS 60
TS 120
TS 120 P
TS 300
TS 300 P
測試空間容積
l
60
120
120
300
300
移動(dòng)提籃最大負載
kg
20
50
50
100
100

試驗空間尺寸:

 高(H)x寬(W)x深(D) m

mm
370x380x430
410x470x650
410x470x650
610x770x650 
610x770x650
熱箱溫度范圍
°C
+50 至 +220
+50 至 +220
+50 至 +220
+50 至 +220
+50 至 +220
冷箱溫度范圍
°C
–80 至 +70
–80 至 +70
–80 至 +70
–80 至 +70
–80 至 +70
熱箱升溫速率①
K/min
17.0
14.0
18.0
11.0
23.0
冷箱降溫速率①
K/min
3.7
6.3
7.5
5.0
12.0 
冷箱升溫速率,單箱操作①
K/min
3.2
2.0
2.0
1.5
1.5
溫度波動(dòng)度②
K
±0.3 至 ±1.0
±0.3 至 ±1.0
±0.3 至 ±1.0
±0.3 至 ±1.0
±0.3 至 ±1.0
溫度均勻性③
K
±0.5 至 ±2.0
±0.5 至 ±2.0
±0.5 至 ±2.0
±0.5 至 ±2.0
±0.5 至 ±2.0
熱/冷箱轉換時(shí)間
sec
<10
<10 <10
<10
<10
恢復時(shí)間–溫度變化測試
min
<15④
<15⑤ 
<12⑥
<15⑦
<15⑧
熱箱校準值⑨
°C
+125
+125
+125
+125
+125
冷箱校準值⑨
°C
–40
–40
–40
–40
–40

① 根據IEC 60068-3-5。通過(guò)選擇提升/降低熱箱/冷箱溫度來(lái)提高溫度變化速率。

②有效測試空間中心點(diǎn)。 

③基于設置點(diǎn);溫度范圍 –65 °C to +200 °C。 

④MIL-STD-883 E,方法 1010.9,強度級 D ,4.5 kg ICs 分布于2個(gè)樣品架內,樣品內測量。 

⑤MIL-STD-883 J,方法 1010.9,強度級 D,12 kg ICs 分布于3個(gè)樣品架內,樣品內測量。 

⑥MIL-STD-883 F,方法 1010.9,強度級 D,20 kg ICs 分布于3個(gè)樣品架內,樣品內測量。 

⑦ MIL-STD-883 J,方法 1010.9,強度級 F,25 kg ICs 分布于3個(gè)樣品架內,樣品內測量。 

⑧ MIL-STD-883 F,方法 1010.9,強度級 F,50 kg ICs 分布于3個(gè)樣品架內,樣品內測量。 

⑨出廠(chǎng)計量。



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